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一种基于磁富集和全内反射的光学检测仪

摘要

本发明公开了一种基于磁富集和全内反射的光学检测仪,其特征在于,其包括:电控双磁场富集分离系统、光学检测系统和恒温加热系统,所述电控双磁场富集分离系统用于产生交替的磁场,以实现对芯片上磁粒子的双向驱动和富集;所述光学检测系统采用全内反射检测技术,以实现光学图像的检测和分析处理;所述恒温加热系统包括温度传感器和加热片,用于控制检测环境的温度。本发明的检测仪采用电控双磁场技术、全内反射光学检测技术和图像分析软件技术,实现样品中低浓度物质的自动快速检测,仪器便携、一步操作、简单快捷。

著录项

  • 公开/公告号CN105929149B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-09-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院电子学研究所;

    申请/专利号CN201610266441.5

  • 发明设计人 刘春秀;贾建;蔡浩原;刘昶;

    申请日2016-04-26

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人任岩

  • 地址 100190 北京市海淀区北四环西路19号

  • 入库时间 2022-08-23 10:16:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-11

    授权

    授权

  • 2016-10-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N33/53 申请日:20160426

    实质审查的生效

  • 2016-10-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 33/53 申请日:20160426

    实质审查的生效

  • 2016-09-07

    公开

    公开

  • 2016-09-07

    公开

    公开

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