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一种同时测量光在探测器里反射步长和Tyvek反射率的方法

摘要

本发明公开了一种同时测量光在探测器里反射步长和Tyvek反射率的方法。本方法为:1)将选取的内壁为高反射Tyvek材料的圆柱形探测器充满纯净空气,并设置一个光电倍增管;2)利用选取的光源在该探测器里照射,用光电倍增管采集光信号;3)改变该探测器内壁的反射面积,重复步骤2);然后根据采集的光信号拟合得到不同反射面积时光子在该探测器的有效衰减长度λ’;4)根据步骤3)得到的数据,利用1/λ’=‑ln(f)/L‑ln(r)/L拟合λ’关于反射面积占该探测器内壁面积比例r的对应点,同时测量出空气中Tyvek的反射率和平均反射步长。本方法操作简单且误差小精度高,原理新颖,具有很强的应用价值。

著录项

  • 公开/公告号CN107271033B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-08-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院高能物理研究所;

    申请/专利号CN201710398214.2

  • 申请日2017-05-31

  • 分类号

  • 代理机构北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人司立彬

  • 地址 100049 北京市石景山区玉泉路19号(乙)

  • 入库时间 2022-08-23 10:15:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-21

    授权

    授权

  • 2017-11-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J1/42 申请日:20170531

    实质审查的生效

  • 2017-10-20

    公开

    公开

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