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指纹细节点集合的向量化描述方法及系统

摘要

本发明提出一种指纹细节点集合的向量化描述方法,包括以下步骤:从原始指纹图像中选取参考点;根据参考点将原始指纹图像转化到预定坐标系下的矫正图像;从预定坐标系中提取预定邻域内的矫正图像的多个指纹细节点,并根据多个指纹细节点得到指纹细节点集合;对预定坐标系下预定邻域内的矫正图像进行采样,以获取多个采样点;对每个采样点利用预定长度的描述向量表示;将多个采样点的描述向量按照预定的次序组合以获取最终的指纹细节点集合的向量化描述。本发明的方法,具有高区分度的、运算效率高、鲁棒性强的优点。本发明还提出一种指纹细节点集合的向量化描述系统。

著录项

  • 公开/公告号CN104268522B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-08-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201410490632.0

  • 发明设计人 冯建江;周杰;罗宇轩;

    申请日2014-09-23

  • 分类号G06K9/00(20060101);

  • 代理机构11201 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张大威

  • 地址 100084 北京市海淀区100084-82信箱

  • 入库时间 2022-08-23 10:14:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-08-03

    授权

    授权

  • 2015-02-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06K9/00 申请日:20140923

    实质审查的生效

  • 2015-01-07

    公开

    公开

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