首页> 中国专利> 在有缺陷光存储介质上记录数据的方法和装置及存储介质

在有缺陷光存储介质上记录数据的方法和装置及存储介质

摘要

一种在光存储介质的有缺陷区域中记录数据的方法。该方法包括以下步骤:响应于写命令检测写开始地址;当在所述写开始地址的检测期间,由于不稳定的伺服控制信号而没有检测到所述写开始地址时,检查所述写开始地址处的特殊区域是否是有缺陷区域;当所述特殊区域被确定为有缺陷区域时,在禁止所述检查伺服控制信号是否稳定的一寄存器的同时,继续检测所述写开始地址;当检测到所述写开始地址时,在所述特殊区域中记录先前生成的数据并启动检查所述伺服控制信号是否稳定的所述寄存器;在启动检查所述伺服控制信号是否稳定的所述寄存器的同时,确定所述写开始地址的替代地址;以及在所述替代地址处记录数据。

著录项

  • 公开/公告号CN1307621C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2007-03-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN200310102686.7

  • 发明设计人 玄尚勋;

    申请日2003-10-29

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人邵亚丽

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2022-08-23 08:59:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-15

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G11B 7/0045 授权公告日:20070328 终止日期:20161029 申请日:20031029

    专利权的终止

  • 2014-08-20

    专利权的转移 IPC(主分类):G11B 7/0045 变更前: 变更后: 登记生效日:20140729 申请日:20031029

    专利申请权、专利权的转移

  • 2014-08-20

    专利权的转移 IPC(主分类):G11B 7/0045 变更前: 变更后: 登记生效日:20140729 申请日:20031029

    专利申请权、专利权的转移

  • 2007-03-28

    授权

    授权

  • 2007-03-28

    授权

    授权

  • 2005-12-07

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-12-07

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-06-09

    公开

    公开

  • 2004-06-09

    公开

    公开

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