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一种半导体三极管放大倍数脉冲测试方法

摘要

本发明公开了一种半导体三极管放大倍数脉冲测试方法,属于半导体测试领域。其步骤包括:一、设立初始的恒压源电压;二、设立初始基极电流脉冲;三、对恒压源进行补偿;四、对基极电流进行补偿;五、判断静态工作点的准确性;六、设立正确静态工作点的恒压源电压;七、设立正确静态工作点的标准基极脉冲;八、对恒压源进行细微补偿;九、对基极电流进行细微补偿;十、计算放大倍数平均值。本发明能够在相关规定的时间内完成脉冲测试,极大的减少了管芯升温,并且本方法不是硬件闭环测试方法,将不易产生寄生振荡,且在技术上容易实现,成本低。

著录项

  • 公开/公告号CN105021969B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 湘潭大学;

    申请/专利号CN201510404461.X

  • 发明设计人 罗光明;陈彦翔;

    申请日2015-07-10

  • 分类号G01R31/26(20140101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 411105 湖南省湘潭市雨湖区羊牯塘27号湘潭大学

  • 入库时间 2022-08-23 10:14:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-06

    专利权的转移 IPC(主分类):G01R31/26 登记生效日:20191119 变更前: 变更后: 申请日:20150710

    专利申请权、专利权的转移

  • 2018-07-24

    授权

    授权

  • 2015-12-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/26 申请日:20150710

    实质审查的生效

  • 2015-11-04

    公开

    公开

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