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有源矩阵板的检查设备和方法,以及有源矩阵有机发光二极管板的制造方法

摘要

本发明涉及有源矩阵板的检查设备和方法,以及有源矩阵有机发光二极管板的制造方法。该检查方法包括在衬底上形成薄膜晶体管阵列从而制造有源矩阵板的阵列工艺;对制造出的有源矩阵板进行性能测试的检查过程;以及在检查过程之后将有机发光二极管安装到有源矩阵板上的单元工艺。在所述检查过程中,在构成在阵列工艺中制造的有源矩阵板的激励薄膜晶体管被导通和关断时,测量通过像素电极的寄生电容的变化,从而检查激励薄膜晶体管中的任何开路/短路缺陷。

著录项

  • 公开/公告号CN1294421C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2007-01-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 国际商业机器公司;

    申请/专利号CN200410045321.X

  • 发明设计人 中野大树;坂口佳民;

    申请日2004-05-20

  • 分类号G01R27/26(20060101);G01R31/26(20060101);

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人李德山

  • 地址 美国纽约

  • 入库时间 2022-08-23 08:59:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2007-01-10

    授权

    授权

  • 2005-04-06

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-02-02

    公开

    公开

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