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一种基于超声脉冲诱发光栅变形的用于测量磁场的方法

摘要

本发明提供了一种基于超声脉冲诱发光栅变形的用于测量磁场的方法,所述测量磁场的方法包括如下步骤:a)搭接光纤传感器磁场测量系统,所述系统包括一段带有连续均匀光栅的光纤、超声波发生器和解调仪,所述的带有连续均匀光栅的光纤具有多段光栅,每段光栅栅格均匀分布,所述光栅之间间隔相同;b)将光纤传感器磁场测量系统置于待测磁场中,记录所述解调仪采集到的离峰偏离主峰的间距;c)将步骤b)中所述的离峰偏离主峰的间距与离峰偏离主峰的间距随磁场强度变化的关系曲线比对,得到磁场强度的大小。

著录项

  • 公开/公告号CN105629185B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京信息科技大学;

    申请/专利号CN201610217021.8

  • 申请日2016-04-08

  • 分类号G01R33/02(20060101);

  • 代理机构11416 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人顾珊;陈轶兰

  • 地址 100085 北京市海淀区清河小营东路12号北京信息科技大学光电学院

  • 入库时间 2022-08-23 10:13:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-20

    授权

    授权

  • 2016-06-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R33/02 申请日:20160408

    实质审查的生效

  • 2016-06-01

    公开

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