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从TD-SCDMA系统执行TDD-LTE系统中的参考信号测量的方法

摘要

本发明为从TD‑SCDMA系统执行TDD‑LTE系统中的参考信号测量的方法和装置。提供了用于当以第二无线接入技术(RAT)进行操作时对第一RAT的适当子帧执行参考信号测量的方法和装置。对于某些方案,第一和第二RAT可以分别是时分双工长期演进(TDD‑LTE)和时分同步码分多址(TD‑SCDMA)。通过知道正确的TDD‑LTE下行链路和上行链路子帧配置,用户设备(UE)可以在空闲时间间隔期间暂时离开TD‑SCDMA网络,并且执行迅速并且准确的TDD‑LTE参考信号测量,而不会有由于尝试在上行链路子帧期间测量参考信号而导致的错误。

著录项

  • 公开/公告号CN104540167B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 高通股份有限公司;

    申请/专利号CN201410795512.1

  • 发明设计人 金汤;石光明;李国钧;

    申请日2011-02-21

  • 分类号

  • 代理机构永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人张立达

  • 地址 美国加利福尼亚

  • 入库时间 2022-08-23 10:13:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-06

    授权

    授权

  • 2015-05-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04W24/08 申请日:20110221

    实质审查的生效

  • 2015-04-22

    公开

    公开

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