一种脉宽调制器单粒子效应时间敏感特性分析方法

摘要

本发明涉及一种脉宽调制器单粒子效应时间敏感特性分析方法，方法包括：对样品的各功能模块进行激光脉冲的遍历式扫描并得到各功能模块的单粒子效应失效模式和单粒子效应敏感参数以及选取各功能模块的典型入射位置、使激光脉冲以一定的入射周期入射各功能模块的典型入射位置来分析获得各功能模块的单粒子效应时间敏感性信息、获取脉宽调制器的单粒子效应时间敏感特性等步骤。本发明方法在脉宽调制器功能模块划分的基础上，结合激光脉冲的可控扫描和各功能模块单粒子效应敏感参数提取来实现脉宽调制器单粒子效应时间敏感特性分析，方法新颖，是重离子单粒子效应地面模拟试验的重要补充，为较复杂数模混合电路的单粒子效应时间敏感特性研究提供支撑。