首页> 中国专利> 一种利用光纤萨格纳克干涉仪测量磁场的方法

一种利用光纤萨格纳克干涉仪测量磁场的方法

摘要

本发明提供了一种利用光纤萨格纳克干涉仪测量磁场的方法,所述方法包括如下步骤:a)搭建级联Sagnac干涉仪测量系统,所述系统包括宽带光源泵浦源、第一掺杂稀土元素光纤、第二掺杂稀土元素光纤、一支波分复用器、第一光耦合器、第二光耦合器、第一光纤Sagnac环、隔离器、第二光纤Sagnac环、光谱仪;b)将第一光纤Sagnac环和第二光纤Sagnac环与可控磁伸缩材料贴合,进行磁场标定;c)逐渐增加磁场的大小,光谱仪采集第二光纤Sagnac环输出的光谱,记录梳状谱移动的长度,拟合梳状谱波长偏移随磁场变化的关系曲线;d)利用所拟合的梳状谱波长偏移随磁场变化的关系曲线对待测磁场进行测量。

著录项

  • 公开/公告号CN105866711B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-06-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京信息科技大学;

    申请/专利号CN201610165587.0

  • 申请日2016-03-22

  • 分类号

  • 代理机构北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人顾珊

  • 地址 100085 北京市海淀区清河小营东路12号北京信息科技大学光电学院

  • 入库时间 2022-08-23 10:12:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-19

    授权

    授权

  • 2016-09-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R33/032 申请日:20160322

    实质审查的生效

  • 2016-08-17

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号