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一种获取剪切场下单个聚合物分子荧光发射光谱信息的方法

摘要

本发明公开了一种获取剪切场下单个聚合物分子荧光发射光谱信息的方法。该方法包括如下步骤:(1)配制浓度为10nM以下的聚合物溶液,将荧光分子探针标记在聚合物分子上;(2)在施加剪切场的同时,激光照射经标记的聚合物溶液,收集分析发射出的荧光信号,即得所述单个聚合物分子的荧光发射光谱信息;所采用的测量系统包括一激发光源单元、一剪切施加与流变测量单元、一光学显微单元和一单分子荧光发射光谱测量单元,其中,剪切施加与流变测量单元底部设置一激发光光学窗口。本发明方法将宏观的剪切施加与流变测量和单分子荧光发射光谱测量相结合,获取剪切场下被测量体系的单分子荧光发射光谱,其探测空间为10‑15L级别,具有单分子级别的灵敏度。

著录项

  • 公开/公告号CN105675560B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-06-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201610031002.6

  • 发明设计人 郑锴锴;杨京法;赵江;

    申请日2016-01-18

  • 分类号G01N21/64(20060101);

  • 代理机构11245 北京纪凯知识产权代理有限公司;

  • 代理人关畅;王春霞

  • 地址 100190 北京市海淀区中关村北一街2号

  • 入库时间 2022-08-23 10:12:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-01

    授权

    授权

  • 2018-03-02

    专利申请权的转移 IPC(主分类):G01N21/64 登记生效日:20180207 变更前: 变更后: 申请日:20160118

    专利申请权、专利权的转移

  • 2016-07-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/64 申请日:20160118

    实质审查的生效

  • 2016-06-15

    公开

    公开

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