公开/公告号CN106405637B
专利类型发明专利
公开/公告日2018-06-12
原文格式PDF
申请/专利号CN201510450711.3
申请日2015-07-28
分类号G01V1/28(20060101);G01V1/30(20060101);
代理机构11372 北京聿宏知识产权代理有限公司;
代理人张文娟;朱绘
地址 100728 北京市朝阳区朝阳门北大街22号
入库时间 2022-08-23 10:12:06
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-06-12
授权
授权
2017-03-15
实质审查的生效 IPC(主分类):G01V1/28 申请日:20150728
实质审查的生效
2017-02-15
公开
公开
机译: 一种用于测量彩色滤光片胶片残留率的方法以及一种使用该方法来预测彩色滤光片胶片厚度的方法
机译: 一种测量系统,用于测量和存储数据确定的位置,该位置与所选连续区域上的材料厚度分布有关。在所选连续区域上测量待测对象材料中整体厚度分布的过程。用于在选定的连续区域上测量待测物体的材料中整体厚度分布的设备。声传感器,用于发送和接收用于测量材料厚度的声信号,以及用于在三维空间自动定位的系统声信号传播介质均匀
机译: 一种用于预测和识别薄膜需求的抛光方法以及用于执行该方法的设备,包括用于实时记录薄膜厚度的方法和设备