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一种基于灰度相关的时域高通非均匀性校正方法

摘要

本发明公开的一种基于灰度相关的时域高通非均匀性校正方法,涉及一种用于红外成像领域的基于灰度相关的时域高通非均匀性校正方法,属于红外成像技术领域。本发明采用与入射辐射值相关的一点非均匀性校正模型,将带有边缘保护的空域低通滤波结果作为校正参考源对输入图像进行预校正。结合时域高通滤波计算每一帧的校正偏置值,根据每帧相同位置入射辐射的变化量改变偏置值与灰度的映射关系完成下一帧校正偏置值,消除校正过程中的“鬼影”,提高红外成像质量。本发明可减小实时化的红外成像系统非均匀性校正算法出现的“鬼影”和“过校正”出现的概率,提高红外成像质量,且计算量以及存储空间较少,方便硬件实现。

著录项

  • 公开/公告号CN104917936B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-05-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN201510290343.0

  • 申请日2015-05-29

  • 分类号H04N5/217(20110101);H04N5/33(20060101);

  • 代理机构11639 北京理工正阳知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人王民盛

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号北京理工大学

  • 入库时间 2022-08-23 10:11:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-05-18

    授权

    授权

  • 2015-10-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04N5/217 申请日:20150529

    实质审查的生效

  • 2015-09-16

    公开

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