首页> 中国专利> 用于在FinFET沟道中诱导应变的方法

用于在FinFET沟道中诱导应变的方法

摘要

用于在FinFET沟道中诱导应变的方法。本文公开了一种FinFET,其中位于鳍内的膨胀材料(通常是鳍半导体的氧化物)产生显著增大FinFET沟道内的电荷载流子迁移率的应变。该构思可以应用到p型或n型FinFET。对于p型FinFET,膨胀材料设置在源极区和漏极区的下方。对于n型FinFET,膨胀材料设置在沟道区的下方。膨胀材料可以与源极区和漏极区上的应变诱导外延或不与源极区和漏极区上的应变诱导外延一起使用,并且可以提供比单独使用应变诱导外延实现的应变更大的应变。

著录项

  • 公开/公告号CN103996709B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-05-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 台湾积体电路制造股份有限公司;

    申请/专利号CN201310239660.0

  • 发明设计人 让-皮埃尔·科林格;江国诚;

    申请日2013-06-17

  • 分类号H01L29/78(20060101);H01L29/06(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构11409 北京德恒律治知识产权代理有限公司;

  • 代理人章社杲;孙征

  • 地址 中国台湾新竹

  • 入库时间 2022-08-23 10:10:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-05-04

    授权

    授权

  • 2014-09-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/78 申请日:20130617

    实质审查的生效

  • 2014-08-20

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号