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一种高电学稳定性的铁电/半导体/PMMA三元复合阻变薄膜及其制备方法

摘要

本发明属于阻变存储器技术领域,具体为一种高电学稳定性的铁电/半导体/PMMA三元复合阻变薄膜及其制备方法。本发明的三元复合阻变薄膜是对铁电/半导体复合薄膜进行聚甲基丙烯酸甲脂(PMMA)掺杂而得到,PMMA的掺杂量与铁电聚合物的质量比为0.1:10‑0.3:10。该三元复合薄膜的表面粗糙度、抗电疲劳特性和阻态保持性能都得到明显改善。由于PMMA与铁电聚合物P(VDF‑TrFE)互溶性佳,可有效降低铁电相的漏电特性;而PMMA与有机半导体,如P3HT,形成层状相分离结构,可有效抑制半导体相的漏电,降低半导体相电击穿的风险。

著录项

  • 公开/公告号CN105514273B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-04-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 复旦大学;

    申请/专利号CN201510950012.5

  • 发明设计人 朱国栋;

    申请日2015-12-18

  • 分类号H01L51/05(20060101);H01L51/30(20060101);H01L51/40(20060101);

  • 代理机构31200 上海正旦专利代理有限公司;

  • 代理人陆飞;盛志范

  • 地址 200433 上海市杨浦区邯郸路220号

  • 入库时间 2022-08-23 10:09:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-03

    授权

    授权

  • 2016-11-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L51/05 申请日:20151218

    实质审查的生效

  • 2016-04-20

    公开

    公开

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