首页> 中国专利> 利用单个发光粒子检测技术的光学显微镜装置、显微镜观察法以及用于显微镜观察的计算机程序

利用单个发光粒子检测技术的光学显微镜装置、显微镜观察法以及用于显微镜观察的计算机程序

摘要

本发明提供一种利用扫描分子计数法的方法能够检测在有厚度的样本中位置动态地变化的发光体或发光粒子的显微镜观察技术。在本发明的光学显微镜观察技术中,使用共焦显微镜或多光子显微镜的光学系统检测来自在液体中运动的发光粒子(LP)的光来检测发光粒子(LP)。在处理操作中,一边使光检测区域(CV)的位置在将显微镜的观察对象区域(ObR)分割为多个所得到的每个观察小区域(OsR)内移动一边检测来自所述光检测区域(CV)的光,来逐个检测来自所述发光粒子(LP)的光的信号,决定与检测信号对应的发光粒子(LP)在观察对象区域(ObR)内的位置。另外,各个所述观察小区域(OsR)中的所述光检测区域(CV)的位置的移动在每个所述观察小区域(OsR)内沿至少两个方向连续地和/或沿同一方向连续地执行多次。

著录项

  • 公开/公告号CN105431759B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-04-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 奥林巴斯株式会社;

    申请/专利号CN201480043252.0

  • 发明设计人 山口光城;田边哲也;

    申请日2014-06-23

  • 分类号

  • 代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新宇

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 10:09:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-13

    授权

    授权

  • 2016-04-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B21/00 申请日:20140623

    实质审查的生效

  • 2016-03-23

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号