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采用激光波长修正式角反射镜激光干涉仪的测量方法

摘要

本发明涉及一种精密测试技术及仪器领域,特别涉及一种激光波长修正式角反射镜激光干涉仪及测量方法,所述激光波长修正式角反射镜激光干涉仪,包括激光源、固定角反射镜、光电探测器、测量角反射镜装置和分光镜,所述测量角反射镜装置包括测量角反射镜和精密位移装置,所述精密位移装置为所述测量角反射镜提供与被测物体位移同向或反向的位移。本申请中,将被测物体实际位移中超出半个激光波长的小数部分△L也测量出来补充到位移检测结果中,进而使得本申请的激光干涉仪所测量得到的位移结果更加精确,同时在距离测量过程中,精密位移装置进行若干整数波长精确位移,通过精确的距离反求环境等效激光波长,进一步提高本发明激光干涉仪的测量精度。

著录项

  • 公开/公告号CN105352435B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-03-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 成都信息工程大学;

    申请/专利号CN201510852430.0

  • 申请日2015-11-27

  • 分类号

  • 代理机构四川力久律师事务所;

  • 代理人韩洋

  • 地址 610225 四川省成都市西南航空港经济开发区学府路一段24号

  • 入库时间 2022-08-23 10:08:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-27

    授权

    授权

  • 2016-03-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B9/02 申请日:20151127

    实质审查的生效

  • 2016-02-24

    公开

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