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用于测量试样气体的气体成分浓度的气体分析仪和方法

摘要

本发明涉及用于测量试样气体中气体成分浓度的方法和气体分析仪。为依波长扫描试样气体中待测气体成分的吸收谱线,能调谐波长的光源的光的波长在周期性依次连续的扫描区间中变化并在此附加利用调制频率来调制。调制光引导穿过试样气体至探测器,其测量信号在调制频率的二次谐波中来解调并分析在此获得的解调的测量信号来得出每个扫描区间的测量结果。为改进测量信号噪音关系,附加利用至少一个其他频率调制光源光的波长,该频率比下一个更低的其他频率或者调制频率大调制频率值的两倍。在至少一个其他频率的二次谐波中附加解调测量信号。此时获得的至少一个其他解调测量信号或与解调测量信号组合,或经分析得出其他测量结果,其与测量结果组合。

著录项

  • 公开/公告号CN104458650B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-01-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西门子公司;

    申请/专利号CN201410494303.3

  • 发明设计人 弗朗茨·施泰因巴赫尔;

    申请日2014-09-24

  • 分类号

  • 代理机构北京康信知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人余刚

  • 地址 德国慕尼黑

  • 入库时间 2022-08-23 10:06:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-19

    授权

    授权

  • 2015-04-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/39 申请日:20140924

    实质审查的生效

  • 2015-03-25

    公开

    公开

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