基于动态输入向量的片上SET脉冲测试方法

摘要

本发明公开了基于动态输入向量的片上SET脉冲测试方法，目的是提供一种与电路实际工作环境更为接近的片上SET脉冲测试方法。技术方案是：1.设计基于动态输入向量的片上SET脉冲测试电路；2.对基于动态输入向量的片上SET脉冲测试电路上电，在反相器链的输入端加载一个动态输入向量；3.将基于动态输入向量的片上SET脉冲测试电路置于粒子辐射环境中，测试SET脉冲，最终在外部主机端口得到动态输入向量下电路产生的SET脉冲。本发明相比于现有片上SET脉冲测试方法，测得的SET脉冲个数、每个SET脉冲的宽度以及SET脉冲的平均宽度等与电路在实际工作过程中受到单粒子轰击时所产生的SET脉冲更为接近，从而使得测试结果更具指导意义，降低集成电路软错误率分析的难度。