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一种干涉图像中不均匀直流分量的校正方法

摘要

一种干涉图像中不均匀直流分量的校正方法,首先根据干涉型成像光谱仪数据特点对干涉数据进行分段处理;然后对双边采样干涉数据采用滑动均值法结合对称均值进行处理,得到干涉数据直流分量数据曲线,对单边采样干涉数据采用滑动均值法求解干涉数据直流分量数据曲线;最后对原有干涉数据与整个直流分量数据曲线作差,得到新的干涉信息。本发明方法与现有技术相比,可以对干涉图像中不均匀的直流分量进行严格的校正,保证整个干涉图像处理的精度,运算简便、稳定、高效,很好的满足了干涉型成像仪数据处理的运算效率和精度需求。

著录项

  • 公开/公告号CN104766281B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-01-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国资源卫星应用中心;

    申请/专利号CN201510146081.0

  • 发明设计人 林军;李运伟;喻文勇;宋超宇;

    申请日2015-03-30

  • 分类号

  • 代理机构中国航天科技专利中心;

  • 代理人陈鹏

  • 地址 100094 北京市海淀区永丰产业基地丰贤东路5号

  • 入库时间 2022-08-23 10:05:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-16

    授权

    授权

  • 2015-08-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T5/00 申请日:20150330

    实质审查的生效

  • 2015-07-08

    公开

    公开

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