用于工业过程控制和测量系统的诊断

摘要

现场设备(20，200)包括诊断电路(36)，所述的诊断电路(36)适合于测量与过程控制和测量系统(10)相关的特性。该测量的特性用来提供表示过程控制和测量系统(10)的条件的诊断输出。可以将测量的特性提供给诊断模块，该诊断的模块依据测量的特性进行操作，以便预测或者建模过程控制和测量系统(10)的条件。