基于STT‑RAM存储单元错误率分布的PUF认证方法

摘要

本发明公布了一种利用自旋矩传输随机读写器(STT‑RAM)存储单元错误率分布的物理不可克隆认证方法，包括预处理阶段、注册阶段和验证阶段，包括步骤：首先在预处理阶段记录STT‑RAM阵列中所有EDP的位置，然后在注册阶段输入若干EDP位置，芯片电路利用这些EDP内两个单元错误率相对大小来输出参考输出，在验证阶段再次重现注册阶段，最后根据验证阶段和注册阶段的输出验证给定设备与注册阶段的设备是否相同，从而认证芯片真假。本发明提供方法在很小的硬件代价以及时间代价下，解决设备认证的问题，提高认证的可靠性。