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一种用于器件建模的标准单元选择方法

摘要

本发明公开了一种用于器件建模的标准单元选择方法,通过建立器件—单元映射库,设定标准单元选择条件,在所述映射库中选择包含最多标准器件的单元或某尺寸符合条件的器件仅出现在一个单元上的单元作为独特性标准单元,无论晶圆上有多少个单元,都可以将标准单元的选择过程压缩到秒级,并得到最优方案;同时,生成的测试文件已经包含标准单元和测试信息,节约了建立测试文件的时间,可以直接进行自动化测试。

著录项

  • 公开/公告号CN104899364B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-01-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;

    申请/专利号CN201510277904.3

  • 发明设计人 陈展飞;

    申请日2015-05-27

  • 分类号G06F17/50(20060101);G06F11/22(20060101);

  • 代理机构31275 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人吴世华;陈慧弘

  • 地址 201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号

  • 入库时间 2022-08-23 10:05:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-02

    授权

    授权

  • 2015-10-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20150527

    实质审查的生效

  • 2015-09-09

    公开

    公开

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