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一种提高超声波无损探伤钎着率准确度的测量方法

摘要

本发明涉及一种提高超声波无损探伤钎着率准确度的测量方法,步骤为:进行超声波无损探伤C扫描图像识别;将整个C扫描图像进行灰度处理;确定超声波钎着率的阈值;计算整个焊接层区域的钎着率。本发明考虑到阈值的存在,将灰度大于阈值的象素点对测量钎着率的贡献考虑在内,大大提高了钎着率的测量准确度,杜绝了将合格零件误判为超差品或者将超差品误判为合格品的误判问题,避免了浪费,消除了安全隐患。

著录项

  • 公开/公告号CN105021704B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-12-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海和伍精密仪器股份有限公司;

    申请/专利号CN201510483049.1

  • 发明设计人 张国方;裘揆;叶连慧;

    申请日2015-08-07

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 200240 上海市闵行区剑川路953弄322号一楼

  • 入库时间 2022-08-23 10:04:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-05

    授权

    授权

  • 2016-03-02

    著录事项变更 IPC(主分类):G01N29/06 变更前: 变更后: 申请日:20150807

    著录事项变更

  • 2015-12-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N29/06 申请日:20150807

    实质审查的生效

  • 2015-11-04

    公开

    公开

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