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非晶氧化物半导体薄膜晶体管制造方法

摘要

本发明提供用于制造薄膜晶体管TFT装置的系统、方法及设备。在一方面中,提供具有源极区域、漏极区域及通道区域的衬底。金属阳离子被注入于上覆于所述衬底的所述源极区域及所述漏极区域的氧化物半导体层中。金属阳离子注入在上覆于所述衬底的所述源极区域及所述漏极区域的所述氧化物半导体层中形成经掺杂n型氧化物半导体。

著录项

  • 公开/公告号CN103959477B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-12-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 追踪有限公司;

    申请/专利号CN201280056853.6

  • 申请日2012-11-16

  • 分类号H01L29/786(20060101);H01L29/66(20060101);

  • 代理机构11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人孙宝成

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 10:04:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-15

    授权

    授权

  • 2016-11-09

    专利申请权的转移 IPC(主分类):H01L29/786 登记生效日:20161017 变更前: 变更后: 申请日:20121116

    专利申请权、专利权的转移

  • 2014-08-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/786 申请日:20121116

    实质审查的生效

  • 2014-07-30

    公开

    公开

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