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基于脉冲涡流的多层导电结构缺陷检测装置及其方法

摘要

本发明公开了一种基于脉冲涡流的多层导电结构缺陷检测装置及其方法。半桥驱动电路分别与PC机、51单片机系统、激励信号放大模块、稳压电路、差分霍尔检测探头相连,稳压电路分别与激励信号放大模块、信号调理采集模块相连,信号调理采集模块与PC机相连,GT400运动控制器上设有待测多层导电结构,待测多层导电结构上方设有差分霍尔检测探头并用固定机构固定,PC机与GT400运动控制器相连,差分霍尔检测探头与信号调理采集模块相连。本发明采用差分霍尔检测探头进行无损检测,不需要任何耦合介质,检测速度快,生产效率、检测灵敏度、可靠性高。利用PC机组态软件可监控装置工作情况。

著录项

  • 公开/公告号CN104880509B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-12-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN201510274217.6

  • 申请日2015-05-26

  • 分类号G01N27/90(20060101);

  • 代理机构33200 杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人张法高

  • 地址 310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号

  • 入库时间 2022-08-23 10:04:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-08

    授权

    授权

  • 2015-09-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N27/90 申请日:20150526

    实质审查的生效

  • 2015-09-02

    公开

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