公开/公告号CN104916699B
专利类型发明专利
公开/公告日2017-12-08
原文格式PDF
申请/专利权人 万国半导体股份有限公司;
申请/专利号CN201510334087.0
申请日2013-02-22
分类号H01L29/78(20060101);H01L29/40(20060101);H01L21/336(20060101);H01L29/423(20060101);
代理机构31272 上海申新律师事务所;
代理人吴俊
地址 美国加利福尼亚州94085桑尼维尔奥克米德大道475号
入库时间 2022-08-23 10:03:58
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-05-26
专利权的转移 IPC(主分类):H01L29/78 登记生效日:20200508 变更前: 变更后: 申请日:20130222
专利申请权、专利权的转移
2017-12-08
授权
授权
2015-10-14
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/78 申请日:20130222
实质审查的生效
2015-09-16
公开
公开
机译: 形成非对称多晶硅栅极以优化沟槽功率MOSFET中的端接设计的方法
机译: 非对称多晶硅栅极,可在沟槽式功率MOSFET中实现最佳端接设计
机译: 沟槽功率MOSFET最优端接设计的不对称多晶栅极形成方法