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用于在电子系统中预测温度值的系统和方法

摘要

根据本发明的至少一个实施方式,提供了一种用于评估电子系统的冷却性能的计算机实现方法。该方法包括如下行为:将电子系统划分为包括多个流体单元和多个固体单元的计算网格;利用势流模型分析,来为多个流体单元确定气流值;通过计算从任何邻接流体单元和从任何邻接固体单元,传递到一个流体单元的热量,来确定该流体单元的温度;通过计算从任何邻接固体单元传递到一个固体单元的热量和从该固体单元向外传递到任何邻接流体单元中的热量,来确定该固体单元的温度;以及将气流值、和流体单元的温度、及固体单元的温度存储在储存设备上。

著录项

  • 公开/公告号CN104137660B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-11-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 施耐德电气IT公司;

    申请/专利号CN201180076408.1

  • 发明设计人 詹姆斯·威廉姆·范吉尔德;

    申请日2011-12-22

  • 分类号H05K7/20(20060101);

  • 代理机构11262 北京安信方达知识产权代理有限公司;

  • 代理人周靖;郑霞

  • 地址 美国罗得岛州

  • 入库时间 2022-08-23 10:03:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-11-24

    授权

    授权

  • 2014-12-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):H05K 7/20 申请日:20111222

    实质审查的生效

  • 2014-12-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):H05K 7/20 申请日:20111222

    实质审查的生效

  • 2014-11-05

    公开

    公开

  • 2014-11-05

    公开

    公开

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