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终端光学元件损伤在线检测中孪生像的剔除方法

摘要

终端光学元件损伤在线检测中孪生像的剔除方法,涉及光学元件检测技术领域,尤其涉及终端光学元件损伤在线检测中孪生像的剔除方法。本发明是要解决晶体双折射造成的重影剔除的问题。本发明方法通过以下步骤进行:一、计算出M×N个点在成像系统中CCD上所成的o光像与e光像的坐标;二、计算出M×N个有向线段的距离与倾角;三、对计算出的M×N个有向线段的距离与倾角进行统计分析,找出o光像与e光像的位置关系;四、把e光像作为重影像,e光像的灰度积分值合并到o光像上,剔除e光像;五、保留o光像作为损伤点的唯一像。至此,完成了孪生像中的重影像的剔除。本发明适用于光学元件检测技术领域。

著录项

  • 公开/公告号CN105092608B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-11-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201510616600.5

  • 申请日2015-09-24

  • 分类号

  • 代理机构哈尔滨市松花江专利商标事务所;

  • 代理人杨立超

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2022-08-23 10:03:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-11-03

    授权

    授权

  • 2015-12-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/958 申请日:20150924

    实质审查的生效

  • 2015-12-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/958 申请日:20150924

    实质审查的生效

  • 2015-11-25

    公开

    公开

  • 2015-11-25

    公开

    公开

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