一种色谱柱整体孔径结构分布表征方法及装置

摘要

本发明涉及色谱柱领域，尤其涉及一种色谱柱整体孔径结构分布表征方法及装置。通过对微观上的色谱柱进行直接测量而确定所述色谱柱的整体孔径结构分布，能够避免在微观上和宏观上存在较大的散热差异及尺寸效应的影响，所以测量结果能够代表色谱柱工作时色谱柱的孔径分布和结构，提高测量结果的准确性，克服了现有技术只能在色谱柱外进行宏观上的测量，测量结果不准确的缺陷。本发明实施例提供的方法包括：在至少三个不同的压力下，分别测量每个压力对应的惰性气体流过干状态色谱柱和润湿状态色谱柱的流速；再根据每个压力，以及每个压力下惰性气体流过干状态色谱柱和润湿状态色谱柱的流速，确定所述色谱柱的整体孔径结构分布。