首页> 中国专利> 非晶半导体材料的形成方法及金属硅化物的形成方法

非晶半导体材料的形成方法及金属硅化物的形成方法

摘要

一种非晶半导体材料的形成方法及金属硅化物的形成方法。所述非晶半导体材料的形成方法包括:在半导体基底上形成半导体预备层;对半导体预备层进行紫外线照射处理至半导体预备层分解为非晶半导体材料和废气;去除废气;重复形成半导体预备层、紫外线照射处理和去除废气的步骤,直至在半导体基底上形成预定厚度的非晶半导体材料。所述金属硅化物的形成方法包括:提供半导体衬底,半导体衬底中包括源区和漏区;在源区和漏区上分别形成金属层;进行第一次退火处理;采用上述非晶半导体材料的形成方法在金属层上形成非晶半导体材料;进行第二次退火处理;去除非晶半导体材料。本发明可在400℃及以下的温度形成非晶半导体材料。

著录项

  • 公开/公告号CN104241112B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-11-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201310232183.5

  • 发明设计人 陈勇;

    申请日2013-06-09

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人骆苏华

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江路18号

  • 入库时间 2022-08-23 10:02:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-11-03

    授权

    授权

  • 2015-01-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/30 申请日:20130609

    实质审查的生效

  • 2015-01-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/30 申请日:20130609

    实质审查的生效

  • 2014-12-24

    公开

    公开

  • 2014-12-24

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号