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表面粗糙度测量单元和坐标测量设备

摘要

本发明涉及表面粗糙度测量单元和坐标测量设备。根据本发明的表面粗糙度测量单元包括:接触销单元,其具有接触销和变位检测器,接触销被设置成通过滑块的通孔突出和缩回并且沿着工件表面扫描和移动,变位检测器检测接触销在与工件表面垂直的方向上的变位;驱动部,其沿着工件表面前后移动接触销单元;以及接合部,其将接触销单元和驱动部连结到坐标测量系统的测量头保持件。表面粗糙度测量单元还包括检测滑块与工件表面的接触的接触检测器。

著录项

  • 公开/公告号CN103776415B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-10-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社三丰;

    申请/专利号CN201310485327.8

  • 申请日2013-10-16

  • 分类号

  • 代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新宇

  • 地址 日本神奈川县

  • 入库时间 2022-08-23 10:02:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-10-24

    授权

    授权

  • 2015-09-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 21/30 申请日:20131016

    实质审查的生效

  • 2015-09-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 21/30 申请日:20131016

    实质审查的生效

  • 2014-05-07

    公开

    公开

  • 2014-05-07

    公开

    公开

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