具有子像素结构的空间光调制器缺陷分类方法

摘要

本发明提供一种具有子像素结构的空间光调制器缺陷分类方法及装置，该方法包括：对空间光调制器进行背光补偿，其中，空间光调制器位于暗室中；采集多个先验为无坏点的空间光调制器的多种颜色图像，并计算每种颜色图像的颜色强度均值，以训练分类器，计算发光单元的标准颜色强度向量；采集待检测空间光调制器的多种颜色图像，利用分类器和标准颜色强度向量的相关性识别待检测空间光调制器的正常点与缺陷点；根据分类器的分类结果和空间光调制器的多种颜色图像中同一发光单元的数据关系，对缺陷点进行进一步分类。该方法具有检测精度高、检测效率高的优点。