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PIN光电二极管、X射线探测像元、装置及其探测方法

摘要

本发明公开了一种PIN光电二极管、X射线探测像元、装置及其探测方法,该PIN光电二极管包括:本征层、第一掺杂层和第二掺杂层;还包括:第三掺杂层;本征层位于第一掺杂层和第二掺杂层之间,第三掺杂层位于第二掺杂层之上。具体地,本发明实施例提供的PIN光电二极管,通过在第二掺杂层之上覆盖一层第三掺杂层,这样可以防止第二掺杂层被周期性破坏,从而防止第二掺杂层表面出现缺陷,有利改善了PIN光电二极管由于掺杂层表面存在表面缺陷而导致的缺陷暗电流,同时将该PIN光电二极管应用于X射线探测器,可以提高图像质量。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-08-11

    授权

    授权

  • 2016-08-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 31/0352 申请日:20160321

    实质审查的生效

  • 2016-08-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 31/0352 申请日:20160321

    实质审查的生效

  • 2016-07-27

    公开

    公开

  • 2016-07-27

    公开

    公开

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