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单狭缝空间载波剪切散斑干涉测量系统及测量方法

摘要

本发明公开了一种单狭缝空间载波剪切散斑干涉测量系统及测量方法,其特征是:激光器出射的激光经过扩束镜之后以扩散光的形式照射被测物,被测物的表面漫反射光依次经过成像镜头、狭缝光阑、4f系统以及迈克尔逊型装置投射在CCD相机的靶面上。本发明可以对被测物表面的缺陷和应力形变进行无损、全场、快速、动态测量,且便于现场测量。

著录项

  • 公开/公告号CN104482875B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-07-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 合肥工业大学;

    申请/专利号CN201410798529.2

  • 申请日2014-12-19

  • 分类号G01B11/16(20060101);G01B11/02(20060101);G01N21/88(20060101);

  • 代理机构34101 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司;

  • 代理人何梅生

  • 地址 230009 安徽省合肥市包河区屯溪路193号

  • 入库时间 2022-08-23 09:58:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-07-21

    授权

    授权

  • 2015-04-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/16 申请日:20141219

    实质审查的生效

  • 2015-04-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/16 申请日:20141219

    实质审查的生效

  • 2015-04-01

    公开

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  • 2015-04-01

    公开

    公开

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