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一种基于状态分区的静态缺陷检测求精方法

摘要

本发明涉及一种基于状态分区的静态缺陷检测求精方法,包括:S1:将待检测的缺陷模式属性状态机集合置于待测函数控制流入口;S2:程序通过路径由前置位置执行到目标位置;S3:属性状态机的状态沿程序路径进行传递以及变化,在目标位置处到达预设状态;S4:取控制流当前节点,判断是否为控制流最后节点;S5:如果不为控制流最后节点,则根据当前节点信息更新属性状态条件以及属性状态分区集合信息。本发明提供的基于状态分区技术的缺陷检测求精方法,给出了缺陷模式的定义,缺陷模式状态机的定义,路径条件的定义,状态条件的定义,状态分区的定义,基于状态分区技术,给出缺陷检测求精方法,从而提高缺陷检测的精度。

著录项

  • 公开/公告号CN103927258B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-06-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京邮电大学;

    申请/专利号CN201410138438.6

  • 申请日2014-04-08

  • 分类号

  • 代理机构北京路浩知识产权代理有限公司;

  • 代理人李迪

  • 地址 100876 北京市海淀区西土城路10号

  • 入库时间 2022-08-23 09:57:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-23

    授权

    授权

  • 2014-08-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20140408

    实质审查的生效

  • 2014-07-16

    公开

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