テスト長制約下での欠陥検出率向上のための状態可観測なFSM のテスト生成法

摘要

We proposed a fault-independent test generation method for logical fault testing of state-observable FSMs and a fault-dependent test generation method for timing fault testing of state-observable FSMs to reduce over testing and under testing. Since the test sequence generated by a fault-independent test generation method is detectable all kinds of logical faults and timing faults, the test quality is very high. However, the test length is long for FSMs with many state transitions. While, the test sequence generated by a fault-dependent test generation method is detectable all testable faults for specified fault models, but does not achieve high fault coverage for other fault models. In this paper, we propose a test generation method to detect all testable faults for specified fault models and to increase fault coverage for other main fault models as much as possible for state-observable FSMs under a test length constraint. We give experimental results for MCNC'91 benchmark circuits to evaluate bridging fault coverage, transition fault coverage, and statistical delay quality level and show the effectiveness of the proposed test generation method compared with a stuck-at fault dependent test generation method.%我々は，オーバーテストやアンダーテストを抑制するために，状態可観測な状態遷移機械（FSM）の論理故障テストやタイミング故障テストに対する故障非依存テスト生成法と故障依存テスト生成法を提案した．故障非依存テスト生成法で生成されたテスト系列は，すべての論理故障やタイミング故障を検出できるのでテスト品質が非常に高い．しかしながら，FSMの状態遷移数が多いと，そのテスト系列長は長くなる．一方，故障依存テスト生成法で生成されたテスト系列は，指定された故障モデルに対しては，テスト可能な故障はすべて検出することができるが，他の故障モデルに対する故障検出率は高いとはいえない．本論文では，状態可観測なFSMを対象に，限られたテスト長下で指定された故障モデルに対して，テスト可能な故障はすべて検出し，他の主要な故障モデルに対して高い故障検出率を得るためのテスト生成法を提案する．MCNC'91ベンチマーク回路に対して，本手法のブリッジ故障検出率，遷移故障検出率，統計的遅延品質モデルについて評価し，縮退故障依存テスト生成法と比較して，その有効性を示す．