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确定高分辨率SAR参考目标RCS对定标影响的方法及补偿方法

摘要

本发明公开了一种确定高分辨率SAR参考目标RCS对定标影响的方法及补偿方法,基于FEKO三维电磁仿真结果,采用多层快速多极子方法获取参考目标RCS随频带或方位角变化数据,然后将该参考目标RCS引入到SAR回波信号中,可全面定量分析评估参考目标RCS随频带或方位角变化对成像结果的影响,是一种更为接近实际情况的分析方法;本发明的补偿方法,通过先对现有的具有不同中心频率和/或频带范围的高分辨SAR的参考目标RCS数据进行仿真,然后基于上述定标影响的结果,判断实际使用高分辨率SAR的带宽内的积分能量差值的最大值和方位波束宽度内积分能量差值的最大值中是否满足至少有一个大于或等于0.2dB来确定是否对进行回波补偿,可在满足SAR探测精度的同时,节省运算量。

著录项

  • 公开/公告号CN104730503B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-06-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院电子学研究所;

    申请/专利号CN201510119339.8

  • 发明设计人 雷大力;洪峻;王宇;费春娇;

    申请日2015-03-18

  • 分类号G01S7/40(20060101);G01S13/90(20060101);

  • 代理机构11120 北京理工大学专利中心;

  • 代理人李微微;仇蕾安

  • 地址 100080 北京市海淀区北四环西路19号

  • 入库时间 2022-08-23 09:57:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-13

    授权

    授权

  • 2015-07-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 7/40 申请日:20150318

    实质审查的生效

  • 2015-06-24

    公开

    公开

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