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一种全角度发射率/反射率测试平台

摘要

一种全角度发射率/反射率测试平台:一固定平台,该固定平台的中心区域设有一可以360度旋转的中央旋转台,中央放置台的中心位置放置待测的金属块;固定平台上的两侧各设有一个横梁旋转底座,一横梁旋转支架的两端可放置地连接在横梁旋转底座上,以横梁旋转底座为支撑点作180度旋转,该横梁旋转支架跨设于中央旋转台上方;横梁旋转支架的中间是发射光源的固定位置;中央旋转台的一侧上设有一旋转底座,一L型旋转支架的一端可转动地连接在旋转底座上,以旋转底座为支撑点作180度旋转;该L型旋转支架的另一端设有探测器,该探测器位于横梁旋转支架发射光源的下方。本发明可以全角度测量金属块辐射率,不存在死角。

著录项

  • 公开/公告号CN104749204B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-05-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院工程热物理研究所;

    申请/专利号CN201510129356.X

  • 发明设计人 周小明;淮秀兰;李勋锋;成克用;

    申请日2015-03-24

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人宋焰琴

  • 地址 100190 北京市海淀区北四环西路11号

  • 入库时间 2022-08-23 09:56:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-05-10

    授权

    授权

  • 2015-07-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 25/00 申请日:20150324

    实质审查的生效

  • 2015-07-01

    公开

    公开

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