首页> 中国专利> 锁相环电路和锁相环电路中的相位比较方法

锁相环电路和锁相环电路中的相位比较方法

摘要

公开了一种锁相环电路和锁相环电路中的相位比较方法,该锁相环电路包括:分频器,用于通过对振荡信号进行分频而生成具有周期T/M的分频信号,其中,M是大于或等于2的整数;相位比较器,用于通过对M个参考信号与分频信号进行逻辑异或计算而生成相位比较结果,这M个参考信号具有周期T并且各自顺序地偏移了时间间隔T/2M;环路滤波器,用于使用相位比较结果作为输入而生成电压信号;以及压控振荡器,用于通过以根据电压信号的频率进行振荡而生成振荡信号。

著录项

  • 公开/公告号CN104065377B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-05-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士通株式会社;

    申请/专利号CN201410096424.2

  • 发明设计人 松村宏志;

    申请日2014-03-14

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人朱胜

  • 地址 日本神奈川县

  • 入库时间 2022-08-23 09:56:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-05-17

    授权

    授权

  • 2014-10-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):H03L 7/085 申请日:20140314

    实质审查的生效

  • 2014-09-24

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号