X波段准光腔材料的测定方法及其介电常数测量方法

摘要

本发明公开一种X波段准光腔材料的测定方法，该测定方法包括如下步骤：1)根据准光腔腔体材质或镀层材质确定趋肤深度；2)根据准光腔品质因数和趋肤深度Q确定腔长D取值范围；3)根据准光腔曲率因子和本征谱线纯度确定球面镜曲率半径R取值范围；4)确定准光腔球面镜口径A1为350mm；5)确定准光腔平面镜直径A2为250mm；6)确定准光腔的信号耦合性，所述准光腔的球面镜顶端与耦合波导的底端固定连接。该测量方法简单便捷，测量准确度较高。