Cavity perturbation technique for complex permittivity measurement of dielectric materials at X-band microwave frequency

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• 来源
  《Recent Advances in Microwave Theory and Applications, 2008 International Conference of》||P.836-838|共3页
• 会议地点
• 作者

  Vyas A.D.; Rana V.A.; Gadani D.H.; Prajapati A.N.;

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• 作者单位

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• 会议组织
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• 正文语种
• 中图分类 工业技术;
• 关键词

  Cavity perturbation; dielectric constant; dielectric loss;

  机译：腔扰动;介电常数;介电损耗;