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镓中杂质元素的分析方法

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摘要

本发明为镓中杂质元素的分析方法，用盐酸、硝酸部分溶解主体镓，使镓中杂质元素富集在残余镓中，再将残余镓完全溶解，用小体积异丙醚萃取除镓，水相进行原子发射光谱溶液残渣法测定。本法节省有机试剂，空白值低，灵敏度高，手续简便准确，测定范围宽。取样0.5克其测定范围分别为：汞、铂6×10

1. 镓中杂质元素的分析方法 [P] . 中国专利： CN1012629B . 1991.05.15
2. 一种硅锰锆孕育剂中其他杂质元素的分析方法 [P] . 中国专利： CN110895244A . 2020-03-20
3. CONCENTRATION ANALYZING METHOD OF IMPURE ELEMENT IN DEPTH DIRECTION [P] . 日本专利： JP2008215990A . 2008-09-18

机译：深度方向中杂质元素的浓度分析方法
4. METHOD OF ANALYZING IMPURITY ELEMENT IN METALLIC SODIUM [P] . 日本专利： JP2003322596A . 2003-11-14

机译：金属钠中杂质元素的分析方法
5. ANALYSIS OF IMPURITY ELEMENT DISTRIBUTED IN THIN-FILM LAYER CONSTITUTING LIQUID CRYSTAL PANEL AND LIQUID CRYSTAL PANEL CONSTITUTED BY USING THIN-FILM LAYER, WHEREIN THE AMOUNT OF IMPURITY ELEMENT IS CONFIRMED TO BE LESS THAN SPECIFIED VALUE BY ANALYSIS THEREOF [P] . 日本专利： JPH09145643A . 1997-06-06

机译：通过分析认为，在组成液晶薄膜的液晶层中分布的杂质元素和使用薄膜层构成的液晶面板中的杂质元素的分析结果均小于或等于规定值