首页> 中国专利> 改善阻障层的覆盖均匀性的方法及具有该阻障层的内连线

改善阻障层的覆盖均匀性的方法及具有该阻障层的内连线

摘要

本发明提供一种改善阻障层的覆盖均匀性的方法,首先提供一半导体基底,半导体基底上依序形成有一金属层及一介电层,介电层具有一双镶嵌沟槽;且双镶嵌沟槽露出金属层的表面;于双镶嵌沟槽及介电层表面上形成一阻障层;在形成该阻障层后,对阻障层进行再溅击步骤以均匀阻障层的厚度,其中该再溅击步骤的反应气体包括惰性气体。

著录项

  • 公开/公告号CN1236481C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2006-01-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 台湾积体电路制造股份有限公司;

    申请/专利号CN03142989.0

  • 发明设计人 黄震麟;谢静华;眭晓林;

    申请日2003-06-11

  • 分类号

  • 代理机构北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人李强

  • 地址 台湾省新竹科学工业园区

  • 入库时间 2022-08-23 08:58:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2006-01-11

    授权

    授权

  • 2004-09-22

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-07-14

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号