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测量固体表面速度变化的光干涉仪

摘要

一种测量固体表面速度变化的光干涉仪。仪器中设置两条长短不同的光路系统,光源发出的光分别经过它们,以时间差τ值先后射到被测表面,当它们从表面返回干涉系统时,应用光的偏振特性,使之各自经过与入射光路长短相反的路径到达光电探测器,于是消除时间差τ而实现等光程干涉,干涉条纹的变化正比于表面速度的变化。测速变化范围3m/s-1000m/s,本发明具有量程大,成本低,使用方便的优点。

著录项

  • 公开/公告号CN85104475B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日1988-09-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN85104475

  • 发明设计人 张仲先;

    申请日1985-06-07

  • 分类号G01S17/58;

  • 代理机构浙江大学专利代理事务所;

  • 代理人陈祯祥

  • 地址 浙江省杭州市玉泉

  • 入库时间 2022-08-23 08:54:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 1988-09-21

    审定

    审定

  • 1987-02-04

    公开

    公开

  • 1986-10-15

    实质审查请求

    实质审查请求

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