公开/公告号CN104034419B
专利类型发明专利
公开/公告日2017-04-05
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;
申请/专利号CN201410187178.1
申请日2014-05-05
分类号G01J3/28(20060101);G01J3/12(20060101);G01J3/02(20060101);
代理机构22210 长春菁华专利商标代理事务所(普通合伙);
代理人南小平
地址 130033 吉林省长春市东南湖大路3888号
入库时间 2022-08-23 09:54:14
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-04-05
授权
授权
2014-10-15
实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 3/28 申请日:20140505
实质审查的生效
2014-09-10
公开
公开
机译: 改变织物条中的侧线元件的取向的方法包括在第二校正单元中对其角度和弯曲误差的附加校正,该第二校正单元在第一校正单元之后
机译: 弯曲皱纹校正方法,以及使用弯曲皱纹校正方法形成具有截面凹槽形状的构件的方法
机译: 用于产生衰减校正图(ac)模型的系统,用于产生磁共振线圈(mr)的衰减校正图(ac)模型的方法,计算机可读介质,用于产生校正后的衰减核图像的方法,成像系统,库存储器中存储的衰减校正图(ac)模板的设置以及用于调整患者的衰减校正图(ac)的方法以校正核扫描数据中的衰减