一种非边界扫描器件逻辑簇故障测试方法

摘要

本发明涉及一种非边界扫描器件逻辑簇故障测试方法，通过与非边界扫描器件逻辑簇相邻的边界扫描器件向该非边界扫描器件逻辑簇输出测试激励并捕获测试响应，进而对该测试响应进行比较分析，完成对该非边界扫描器件逻辑簇故障的测试：将测试激励预置到第一边界扫描器件相应的输出扫描单元；通过第一边界扫描器件的扫描单元将测试激励施加到非边界扫描器件逻辑簇输入引脚上；通过第二边界扫描器件的扫描单元接收从非边界扫描器件逻辑簇输出引脚得到的测试响应；将测试响应取回，与预定的反映非边界扫描器件逻辑簇输入输出关系的对比数据进行比较分析，得出结果。本发明的测试方法，成本很低，操作简单方便，是一种高效低成本的芯片故障测试方法。