一种ICP发射光谱法测定永磁铁氧体添加剂和助溶剂中硅、钙、铝含量的测定方法

摘要

本发明涉及一种ICP发射光谱法测定永磁铁氧体添加剂和助溶剂中硅、钙、铝含量的测定方法，待测试样加入浓盐酸和浓硝酸，低温溶解后，定容在100mL容量瓶中，摇匀待测。用配制好的硅、钙、铝标准溶液在等离子体原子发射光谱仪上做出硅、钙、铝谱线强度‑质量分数工作曲线，用该曲线分析待测试样，得到永磁铁氧体添加剂和助溶剂中硅、钙、铝含量。本发明使用的分析方法使用的化学试剂较少，对环境污染小，分析成本低，可以多元素同时测定，操作方便，分析速度快，缩短了分析周期，提高了分析效率，减轻了分析操作人员的劳动强度，测定结果有良好的稳定性、重现性和准确性、可靠、实用，能满足日常永磁铁氧体添加剂和助溶剂中硅、钙、铝含量的测定需要。