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基于近场SBR算法及双站测试数据的RCS外推方法

摘要

本发明涉及目标电磁散射特性测量技术。所要解决的技术问题是提供基于近场SBR算法及双站测试数据的RCS外推方法,可以解决目标大尺寸部件间多次耦合散射的近场修正问题,提高目标RCS外推数据的精度。其特征在于:紧密结合电磁散射测量与建模两种手段,根据目标几何外形特征,选取目标尺寸较长的两个方向为入射方向,通过分别测量两个入射方向下目标双站散射数据,并利用提取的两组线状散射中心分别拟合,再基于SBR算法原理,计算两组散射中心间的多次散射贡献,可外推大角度范围内不同距离下的RCS结果,且可有效修正常规外推方法难以修正的多次散射误差。

著录项

  • 公开/公告号CN106342320B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-08-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海无线电设备研究所;

    申请/专利号CN201110011754.3

  • 发明设计人 梁子长;岳慧;陈奇平;

    申请日2011-07-07

  • 分类号G06F19/00(20110101);G01S17/00(20060101);

  • 代理机构31107 上海航天局专利中心;

  • 代理人张绪成

  • 地址 200090 上海市杨浦区黎平路203号

  • 入库时间 2022-08-23 09:51:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-01-18

    保密专利的解密 IPC(主分类):G06F 19/00 申请日:20110707

    保密专利的解密

  • 2014-08-20

    保密专利专利权授予

    保密专利专利权授予

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