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一种单光束双工位大量程激光粒度测量装置

摘要

单光束双工位大量程激光粒度测量装置,包括一用于发射激光的激光器1,激光器1的后端按照激光光路的前进方向依次设置有扩束镜2、傅里叶透镜4、用于改变激光光路方向的光学组件、光电探测器阵列10,一样品窗6,所述傅里叶透镜4和光学组件之间设有第一工位12,所述光学组件和光电探测器阵列10之间设有第二工位9,所述样品窗6在所述第一工位12和第二工位9之间相对移动。本发明的有益效果为:采用折叠光路,可移动样品窗,实现了对样品的二次测试,扩大了仪器测量范围,光路长度缩短为原长的1/2。大大减小了仪器体积,提高了仪器测量精度,为激光粒度仪的广泛普及提供了一种全新最优化的结构。

著录项

  • 公开/公告号CN103398926B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-01-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 济南微纳颗粒仪器股份有限公司;

    申请/专利号CN201310343638.0

  • 发明设计人 任中京;陈栋章;

    申请日2013-08-08

  • 分类号

  • 代理机构山东众成仁和律师事务所;

  • 代理人牟迅

  • 地址 250000 山东省济南市高新区大学科技园北区F座东二单元

  • 入库时间 2022-08-23 09:50:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-01-11

    授权

    授权

  • 2014-05-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/02 申请日:20130808

    实质审查的生效

  • 2013-11-20

    公开

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